А.с. 1441897 СССР, МКИ G 01 J 5/58
Устройство для измерения мощности излучения полупроводниковых лазеров
Н.В.Брагин, Р.С.Кафтин, Ю.В.Крыжановский, А.Р. Евстигнеев, В.А.Боховкин, С.В.Москвин, Ю.Н.Николаев
Изобретение относится к измерительной технике, а именно к устройствам для измерения параметров лазерного излучения, и может быть использовано для измерения мощности излучения полупроводниковых лазеров в заданном угле. Цель изобретения - повышение точности измерений. Суть изобретения заключается в выборе диаметра входного окна фотометра в зависимости от фокусного расстояния линзы, установленной между фотометром и полупроводниковым лазером, и угла, в котором измеряется выходная мощность полупроводникового лазера, Изобретение позволяет nриблизительно в 8 раз повысить точность измерений в угле 40° за счет того, что угол, в котаран проводятся измерения выходной мощности полупроводникового лазера, не зависит от nоложения его перед линзой. 1 ил.
